驱动加载失败PGIO口测试问题

今天在测试GPIO口的时候遇到了这样的一个问题：/dev/xxxx open failed

public class GPIO_Test {

	static{
		System.loadLibrary("gpiotest");
	}
	
	public native  int open();
	public native  int write(int count);
	public native  int read();
	public native void close();
	
}

在JNI调用C方法时返回-1，并出现/dev/xxxx open failed，驱动加载失败，说明权限上有问题，可通过adb命令更改权限。

1、cd abd ：进入adb目录

2、adb remount ：重新挂载系统分区，使其重新可写

3、adb shell ：远程登录到Android手机的Linus系统

4、cd dev ：进入Linus系统下外部设备目录(驱动)

5、chmod 777 R2add ：任何人都具有读、写、运行的权限

然后再次运行便加载成功

* 0，表示，pgio口1拉低
* 1，表示，pgio口1拉高
* 2，表示，pgio口2拉低
* 3，表示，pgio口2拉高

在IO控制上，我这边双数表示拉低，单数表示拉高，返回-1表示失败，返回0表示成功。

0、1控制一个IO口，2、3控制一个IO口，当连接继电器时，第一次操作状态改变会有声音，之后再不发生状态变化就不会有声音了。如果把一个IO口拉高了，比如输入1，它会一直保持拉高状态，除非断电或输入0，它才会改变状态，并发出声音。