芯片测试（c语言）

【问题描述】

有n(2<=n<=20)块芯片，已知好芯片比坏芯片多。

每个芯片都能用来测试其他芯片。用好芯片测试其他芯片时，能正确给出被测芯片是好还是坏。而用坏芯片测试其他芯片时，会随机给出好还是坏的测试结果（即此结果与被测试芯片实际的好坏无关）。

给出所有芯片的测试结果，问哪些芯片是好芯片。

【输入格式】

输入数据第一行为一个整数n，表示芯片个数。

第二行到第n+1行为n*n的一张表，每行n个数据。表中的每个数据为0或1，在这n行中的第i行第j列（1<=i,j<=n)的数据表示用第i块芯片测试第j块芯片时得到的测试结果，1表示好，0表示坏，i=j时一律为1（并不表示该芯片对本身的测试结果。芯片不能对本身进行测试）。

【输出格式】

按从小到的顺序输出所有好芯片的编号。

【样例输入】

3

1 0 1

0 1 0

1 0 1

【样例输出】

1 3

【思路】

本题的逻辑就是先找出出现最多次数的一维数组。无论是奇数还是偶数，好芯片出现的最少次数都应该是n/2+1.找到之后，再输出这些相同的一维数组下标+1.

逻辑还是比较简单的，但是实现起来还是比较繁琐的。

可以看代码注释。

#include
int main(){
	int n,i,j,N[20][20];
	scanf("%d",&n);
	for(i=0;i=(n/2+1)){        //符合好芯片的条件
			printf("%d",i+1);
			for(j=0;j