AOI软件之 CAD图纸导入功能

在这里，我不过多的解释AOI，半导体检测行业内的小伙伴自然会懂；我也不会过多解释何为diemap或者wafer-layout。因为我们本文的核心场景仅仅是cad图纸的解析和基本绘图的二次开发。而且我们紧紧是面向行业内的场景需求来说明此功能。

无图我说个JB。先上一张CAD的原图。这里我们过滤图层，只保留有效die的图层。

这里CAD的软件我是用的是librecad，也是我们进行基于此进行二次开发的项目。
项目地址：https://github.com/LibreCAD/LibreCAD

在我们AOI软件中，常常需要显示用于检测的die的布局，并能对die进行一些常规的操作，譬如框选，编辑和删除，譬如能在检测过程中动态显示die的检测状态；譬如在可视化的检测报表中，能通过点击die对应显示检测结果，包括检测的缺陷小图等等信息。更更更加重要的是，客户在查看缺陷时，可以通过布局图 和wafer（晶圆）实体直接对照来看，更便于确认数据。总而言之，这是一个很重要的功能。
展示下我们解析图纸之后，在自定义的渲染组件上重绘的wafer-layout图像。


当然，这里还有很重经验上的东西，就不多说了。不是我敝帚自珍，实在是这年头，经验才是值钱的。懂得都懂。

对此，有需要的伙伴可以私我~