ADC的用途非常广泛,常常用于采集电压等数据,本章介绍ADC的使用 和 说明 嵌入式的伙伴一定要收藏哦
【1】12位ADC是一种采用
逐次逼近方式
的模拟数字转换器。它有18个多路复用通道,可以转换来自16个外部通道和2个内部通道的模拟信号。
【2】模拟看门狗
允许应用程序来检测输入电压
是否超出用户设定的高低阈值
。
【3】各种通道的A/D转换可以配置成单次、连续、扫描或间断转换模式
。
【4】ADC转换的结果可以按照左对齐
或右对齐
的方式存储在16位数据寄存器中。
【5】片上的硬件过采样机制
可以通过减少来自MCU的相关计算负担来提高性能。
高性能:
`
– 可配置12位、10位、8位、或者6位分辨率;
– 自校准;
– 可编程采样时间;
– 数据寄存器可配置数据对齐方式;
– 支持规则数据转换的DMA请求。
`
模拟输入通道:
`
– 16个外部模拟输入通道;
– 1个内部温度传感通道(VSENSE);
– 1个内部参考电压输入通道(VREFINT)。
`
转换开始的发起:
`
- 软件触发;
– 硬件触发。
`
转换模式:
`
– 转换单个通道,或者扫描一序列的通道;
– 单次模式,每次触发转换一次选择的输入通道;
–连续模式,连续转换所选择的输入通道;
– 间断模式;
– 同步模式(适用于具有两个或多个ADC的设备)。
`
模拟看门狗。
中断的产生:
`
– 规则组或注入组转换结束;
– 模拟看门狗事件。
`
过采样:
`
– 16位的数据寄存器;
– 可调整的过采样率,从2x到256x;
– 高达8位的可编程数据移位。
`
ADC供电要求:
2.6V到3.6V,一般电源电压为3.3V。
ADC输入范围:
VREFN≤VIN≤VREFP。
图12-1. ADC模块框图给出了ADC框图。
表12-1. ADC内部信号给出了ADC
表12-2. ADC引脚定义给出了ADC引脚说明。
ADC 带有一个前置校准功能。
【1】在校准期间,ADC 计算一个校准系数,这个系数是应用于 ADC 内部的,它直到 ADC下次掉电才无效。
【2】在校准期间,应用不能使用 ADC
,它必须等到校准完 成。
在 A/D 转换前应执行校准操作。通过软件设置 CLB=1 来对校准进行初始化,在校准期间 CLB 位会一直保持 1,直到校准完成,该位由硬件清 0。
当 ADC 运行条件改变(例如,VDDA、VREFP 以及温度等),建议重新执行一次校准操作。
内部的模拟校准通过设置 ADC_CTL1 寄存器的 RSTCLB 位来重置。
软件校准过程:
1. 确保ADCON=1;
2. 延迟14个ADCCLK以等待ADC稳定;
3. 设置RSTCLB (可选的);
4. 设置CLB=1;
5. 等待直到CLB=0。(直到校准完成,该位由硬件清 0)
ADCCLK 时钟是由
时钟控制器
提供的,它和AHB
、APB2 时钟
保持同步
。
在RCU 时钟控制器
中,有一个专门用于ADC 时钟
的可编程分频器
。
ADC_CTL1 寄存器中的 ADCON 位是 ADC 模块的使能开关。
如果该位为 0,则 ADC 模块保 持复位状态。
为了省电,
当ADCON 位为 0 时,ADC 模拟子模块将会进入掉电模式。
ADC 使 能后需要等待 tus时间后才能采样,tsu 数值详见芯片数据手册。
ADC 支持 18 个多路通道,可以把转换组织成两组:
一个规则组通道和一个注入组通道。
规则组,可以按照特定的序列组织成多达
16 个
转换的序列。ADC_RSQ0~ADC_RSQ2 寄存器
规定了规则组的通道选择。
ADC_RSQ0 寄存器的RL[3:0]位
规定了整个规则组转换序列
的长 度。
注入组,可以按照特定的序列组织成多达
4 个
转换的序列。ADC_ISQ 寄存器规定了注入组的 通道选择。
ADC_ISQ 寄存器的IL[1:0]位
规定了整个注入组转换序列
的长度。
该模式能够运行在
规则组
和注入组
。
单次转换模式下,ADC_RSQ2 寄存器的 RSQ0[4:0]位或 者 ADC_ISQ 寄存器的 ISQ3[4:0]位规定了 ADC 的转换通道
。
当ADCON 位被置 1
,一旦相应 软件触发或者外部触发发生,ADC 就会采样和转换一个通道。
规则通道单次转换结束后,转换数据将被存放于 ADC_RDATA 寄存器中,EOC 将会置 1。如果 EOCIE 位被置 1,将产生一个中断。
注入通道单次转换结束后,转换数据将被存放于 ADC_IDATA0 寄存器中。
EOC 和 EOIC 位将会置 1。如果 EOCIE 或 EOICIE 位被置 1,将产生一个中断。
规则组单次转换模式的软件流程:
注入组单次转换模式的软件流程:
该模式可以运行在
规则组
通道上。
对 ADC_CTL1 寄存器的 CTN 位置 1 可以使能连续转换模式。 在此模式下,ADC 执行由RSQ0[4:0]规定
的转换通道。
当 ADCON 位被置 1,一旦相应软件触发或者外部触发产生,ADC就会采样和转换规定的通道。转换数据保存在ADC_RDATA(规则数据寄存器) 寄存器中
。
规则组连续转换模式的软件流程:
1. 设置ADC_CTL1寄存器的CTN
(连续转换模式)位为1;
2. 根据模拟通道编号配置RSQ0
;
3. 配置ADC_SAMPTx
寄存器;
4. 如果有需要,配置ADC_CTL1寄存器的ETERC和ETSRC位
;
5. 设置SWRCST
位,或者给规则组产生一个外部触发信号;
6. 等待EOC
标志位置1;(硬件置1 :代表转化结束)
7. 从ADC_RDATA
寄存器中读ADC转换结果;
8. 写0清除EOC
标志位;(软件置0:代表可以再次开启转化)
9. 只要还需要进行连续转换,重复步骤【6~8】。
由于要循环查询 EOC(转化结束) 标志位,DMA(直接存储器访问寄存器) 可以被用来传输转换数据,软件流程如下
:
1. 设置ADC_CTL1
寄存器的CTN
位为1;
2. 根据模拟通道编号配置RSQ0
;
3. 配置ADC_SAMPTx
寄存器;
4. 如果有需要,配置ADC_CTL1寄存器的ETERC和ETSRC位
;
5. 准备DMA
模块,用于传输来自ADC_RDATA
(规则数据寄存器)的数据;
6. 设置SWRCST位
,或者给规则组产生一个外部触发。(两种选择 都可以开始转换)
扫描转换模式可以通过将 ADC_CTL0 寄存器的 SM 位置 1 来使能。
在此模式下,ADC 扫描转换所有被ADC_RSQ0~ADC_RSQ2 寄存器或 ADC_ISQ 寄存器选中的所有通道。
一旦ADCON 位被置 1
,当相应软件触发或者外部触发产生,ADC 就会一个接一个的采样和转换规则组或注入组通道
。
转换数据存储在 ADC_RDATA 或ADC_IDATAx 寄存器中。
规则组或注入组转换结束后,EOC 或者 EOIC 位
将被置 1。如果 【EOCIE 或 EOICIE 位被置1,将产生中断】。
当规则组通道工作在扫描模式下时,ADC_CTL1 寄存器的 DMA 位必须设置为 1
。
如果 ADC_CTL1 寄存器的 CTN 位也被置 1,则在规则通道转换完之后,这个转换自动重新开 始。(
扫描模式和连续转化模式并存
)
规则组扫描转换模式的软件流程:
1. 设置 ADC_CTL0 寄存器的 SM 位和 ADC_CTL1 寄存器的 DMA 位为 1;
2. 配置 ADC_RSQx 和 ADC_SAMPTx 寄存器;
3. 如果有需要,配置 ADC_CTL1 寄存器中的 ETERC 和 ETSRC 位;
4. 准备 DMA 模块,用于传输来自 ADC_RDATA 的数据;
5. 设置 SWRCST 位,或者给规则组产生一个外部触发;
6. 等待 EOC 标志位置 1;
7. 写 0 清除 EOC 标志位。
注入组扫描转换模式的软件流程:
1. 设置 ADC_CTL0 寄存器的 SM 位为 1;
8. 配置 ADC_ISQ 和 ADC_SAMPTx 寄存器;
9. 如果有需要,配置 ADC_CTL1 寄存器中的 ETEIC 和 ETSIC 位;
10. 设置 SWRCST 位,或者给注入组产生一个外部触发;
11. 等待 EOC、EOIC 标志位置 1;
12. 读 ADC_IDATAx 寄存器中的转换结果;
13. 写 0 清除 EOC、EOIC 标志位。
对于规则组,ADC_CTL0 寄存器的 DISRC 位置 1 使能间断转换模式。
该模式下可以执行一次 n 个通道的短序列转换(n<=8),此转换是ADC_RSQ0~RSQ2 寄存器
所选择的转换序列的一部分。
数值 n 由 ADC_CTL0寄存器的 DISCNUM[2:0]位(间断模式下的转换数目)给出
。
当相应的软件触发或外部触发发生,ADC 就会采样和转换在ADC_RSQ0~RSQ2寄存器所选择通道中接下来的 n 个通道
,直到规则序列中所有的通道转换完成。
每个规则组转换周期结束后,EOC位将被置1。如果EOCIE
位被置 1 将产生一个中断。
对于注入组,ADC_CTL0 寄存器的 DISIC 位置 1 使能间断转换模式。
该模式下可以执行ADC_ISQ 寄存器
所选择的转换序列的一个通道进行转换。
当相应的软件触发或外部触发发生, ADC 就会采样和转换ADC_ISQ寄存器
中所选择通道的下一个通道,直到注入组序列中所有通道转换完成。
每个注入组通道转换周期结束后,EOIC 位将被置 1。如果 EOICIE 位被置 1 将 产生一个中断。
规则组和注入组不能同时工作在间断模式,同一时刻只能有一组被设置成间断模式。
规则组间断模式的软件流程:
1. 设置 ADC_CTL0
寄存器的 DISRC 位
和 ADC_CTL1
寄存器的 DMA
位为 1;
2. 配置 ADC_CTL0 寄存器的 DISNUM[2:0]位
;
3. 配置ADC_RSQx 和 ADC_SAMPTx
寄存器;
4. 如果有需要,配置 ADC_CTL1 寄存器中的 ETERC 和 ETSRC 位
;
5. 准备 DMA
模块,用于传输来自 ADC_RDATA 的数据;
6. 设置 SWRCST 位
,或者给规则组产生一个外部触发;
7. 如果需要,重复步骤 【6】;
8. 等待 EOC 标志位置 1;
9. 写 0 清除 EOC 标志位。
注入组间断模式的软件流程:
1. 设置 ADC_CTL0 寄存器的 DISRC 位为 1;
9. 配置 ADC_ISQ 和 ADC_SAMPTx 寄存器;
10. 如果有需要,配置 ADC_CTL1 寄存器中的 ETEIC 和 ETSIC 位;
11. 设置 SWICST 位,或者给注入组产生一个外部触发;
12. 如果需要,重复步骤 【4】;
13. 等待 EOC、EOIC 标志位置 1;
14. 读 ADC_IDATAx 寄存器中的转换结果;
15. 写 0 清除 EOC、EOIC 标志位。
如果将
ADC_CTL0
寄存器的ICA
位置 1,在规则组通道之后,注入组通道
被自动转换。
该模式下注入组通道的外部触发不能被使能。
该模式可以转换ADC_RSQ0~ADC_RSQ2 和 ADC_ISQ
寄存器中设置的多至20个
转换序列。
除了ICA 位
之外,如果CTN 位也被置 1
,注 入组通道将在规则组通道之后被自动转换。
清除 ICA 位
,在规则组通道转换期间如果软件触发或者外部触发发生,则启动触发注入转换
。
这种情况下,ADC取消当前转换,注入通道序列
进行转换 。
注入通道组转换结束后,规则组转换从上次被取消的转换处重新开始。
【1】 ADC_CTL0 寄存器的
RWDEN 和 IWDEN 位置 1
将分别使能规则组和注入组的模拟看门狗功 能。
【2】 如果ADC 的模拟转换电压
低于低阈值或高于高阈值时,ADC_STAT 状态寄存器的WDE 位
将被置 1。
【3】如果WDEIE 位
被置 1,将产生中断。
【4】ADC_WDHT 和 ADC_WDLT 寄存器用来设 定高低阈值。
【5】内部数据的比较在对齐
之前完成,因此阀值与 ADC_CTL1寄存器的DAL 位
确定 的对齐方式无关。
【6】ADC_CTL0 寄存器的RWDEN,IWDEN,WDSC 和 WDCHSEL[4:0]位
可以 用来选择模拟看门狗监控单一通道或者多通道。
ADC_CTL1 寄存器的 DAL 位确定转换后数据存储的对齐方式。
注入组通道
转换的数据值已经减去了在ADC_IOFFx
寄存器中定义的偏移量
,因此结果可能是 一个负值
。符号值是一个扩展值。
6 位分辨率的数据对齐不同于 12 位/10 位/8 位分辨率数据对齐,如图 12-10 所示。
ADC 使用若干个 ADCCLK 周期对输入电压采样,采样周期数目可以通过
ADC_SAMPT0 和ADC_SAMPT1 寄存器
的SPTn[2:0]位
更改。
每个通道可以用不同的时间采样。在 12 位分辨率的情况下,
总转换时间=采样时间+12.5 个 ADCCLK 周期。
例如:
ADCCLK = 30MHz ,采样时间为 1.5 个周期,那么总的转换时间为:“1.5+12.5”个 ADCCLK 周期,即
0.467us。 【14/30=0.46666666】
外部触发输入的上升沿可以触发规则组或注入组的转换。
规则组
的外部触发源由 ADC_CTL1 寄存器的ETSRC[2:0]位控制
,注入组
的外部触发源由 ADC_CTL1 寄存器的ETSIC[2:0]位
控 制。
ETSRC[2:0]和 ETSIC[2:0]控制位可以用来确定 8 个可能事件中的哪一个可以触发规则和注入组的转换。
DMA 请求,可以通过设置 ADC_CTL1 寄存器的 DMA 位来使能,它用于规则组多个通道的转 换结果。
ADC在规则组一个通道转换结束后产生一个 DMA 请求,DMA 接受到请求后可以将 转换的数据从 ADC_RDATA寄存器传输到用户指定的目的地址。
将 ADC_CTL1 寄存器的 TSVREN 位置 1 可以使能
温度传感器通道(ADC0_CH16)和 VREFINT通道(ADC0_CH17)
。
温度传感器可以用来测量器件周围的温度。
传感器输出电压能被 ADC 转换成数字量。建议温度传感器的采样时间至少设置为 ts_temp µs(具体数值请参考 datasheet 文 档)。
温度传感器不用时,复位TSVREN位可以将其置于掉电模式。
温度传感器的输出电压随温度线性变化,由于生产过程的多样化,温度变化
曲线
的偏移在不同 的芯片上会有不同(最多相差
45°C
)。
内部温度传感器更适合于检测温度的变化,而不是测量绝对温度。
如果需要测量精确的温度,应该使用一个外置的温度传感器
来校准这个偏移错误。
内部电压参考VREFINT : 提供了一个稳定的(
带隙基准
)电压输出给 ADC 和比较器。VREFINT 内 部连接到 ADC0_CH17输入通道。
使用温度传感器:
1. 配置温度传感器通道(ADC_IN16)的转换序列和采样时间为 ts_temp µs
2. 置位 ADC_CTL1 寄存器中的 TSVREN 位,使能温度传感器
3. 置位 ADC_CTL1 寄存器的 ADCON 位,或者由外部触发启动 ADC 转换
4. 从 ADC 数据寄存器中读取并计算温度传感器数据 Vtemperature,并由下面公式计算出实际温度:
温度 (°C) = {(V25 – Vtemperature) / Avg_Slope} + 25
V25:温度传感器在 25°C 下的电压,典型值请参考相关型号 datasheet。
Avg_Slope:温度与温度传感器电压曲线的均值斜率,典型值请参考相关型号datasheet。
通过降低 ADC 的分辨率,可能获得较快的转换时间(tADC)。 对寄存器 ADC_OVSAMPCTL 中的 DRES[1:0]位进行编程即可配置分辨率为 6、8、10、12 位。
对于那些不需要高精度数据的应用,可以使用较低的分辨率来实现更快速地转换。
只有在 ADCON 比特为 0 时,才能修改 DRES[1:0]的值。
较低的分辨率能够减少转换时间。
如表 12-7.不同分辨率对应的 tCONV 时间所示,较低的分辨率能够减少逐次逼近步骤所需的转换时间 tADC。
片上硬件过采样单元执行数据预处理以减轻 CPU 负担。
它能够处理多个转换,并将多个转换的结果取平均
,得出一个16位宽
的数据。其结果值根据如下公式计算得出,其中 N 和 M 的值 可以被调整,过采样单元可以通过设置 ADC_OVSAMPCTL 寄存器的OVSEN 位来使能,它 是以降低数据输出率
为代价,换取较高的数据分辨率
。
Dout(n)是指 ADC 输出的第 n 个数字信 号:
片上硬件过采样单元执行两个功能:
求和和位右移。
【1】过采样率
N 是在 ADC_OVSAMPCTL 寄 存器的OVSR[2:0]位定义,它的取值范围为 2x 到 256x
。【2】
除法系数
M 定义一个多达 8 位的右 移
,它通过 ADC_OVSAMPCTL 寄存器 OVSS[3:0]位进行配置。
求和单元能够生成一个
多达 20 位(256*12 位)的值
。
【1】首先,将这个值要进行右移
,将移位后剩 余的部分再通过取整
转化一个近似值,最后将高位会被截断
,仅保留最低 16 位有效位
作为最 终值传入对应的数据寄存器
中。
图 12-12. 右移 5 位和取整的数例描述一个从原始 20 位的累积数值处理成 16 位结果值的例子。
表 12-8. N 和 M 的最大输出值(灰色部分表示截断)给出了 N 和 M 各种组合的数据格式,初始转换值为 0xFFF。
和标准的转换模式
相比
,过采样模式的转换时间不会改变:在整个过采样序列的过程中采样时 间仍然保持相等。
每 N个转换就会产生一个新的数据,一个等价的延迟为 N x tADC = N x (tSMPL + tCONV)。
在有两个或者两个以上的 ADC 模块的产品中,可以使用 ADC 同步模式。
在 ADC 同步模式下, 根据ADC_CTL0 寄存器
中SYNCM[3:0]位
所选的模式,转换的启动可以是 ADC0 主和 ADC1 从的交替触发或同步触发。
在同步模式
下,当配置由外部事件触发
的转换时,从 ADC 必须通 过软件
来配置触发来,从而避免错误的触发引起不必要的转换。此外,对于主 ADC 和从 ADC 的外部触发必须被使能。
共有以下几种模式:
`
– 独立模式
– 规则并行模式
– 注入并行模式
– 快速交叉模式
– 慢速交叉模式
– 交替触发模式
– 注入并行模式+规则并行模式
– 规则并行模式+交替触发模式
– 注入并行模式+交叉模式
`
在 ADC 同步模式下,即使 DMA 不用,也要将 DMA 置位,
从 ADC
的转换数据可以通过主ADC
数据寄存器读取。
在这种模式下,ADC 同步是忽略的,每个 ADC 都独立工作。
此模式可并行转换规则通道组,外部触发来源于
规则通道组
的ADC0
的多路开关(由ADC_CTL1
寄存器的ETSRC[2:0]
决定),ADC1 被并行触发。
在 ADC0 或 ADC1 的转换事件结束时,即ADC0 或 ADC1
的规则通道组转换完毕,会产生一个EOIC 中断
。32 位 ADC_RDATA 寄存器包含上半字(由 ADC1 转换的数据构成)和下半字(由ADC0 转换的数据构成),32 位的DMA
被用来将 ADC_RDATA 中的数据传送到SRAM
。
注意:
1.不要在两路 ADC 上转换相同的通道(两路 ADC 在同一通道转换时采样时间不可重叠)。
2.在并行模式下,ADC0 和 ADC1 并行采样的两个通道的需要设置为准确的相同采样时间。
此模式同时转换一个注入通道组,外部触发来源于注入通道组的多路开关(由
ADC_CTL1
寄存 器的ETSIC[2:0]
决定),ADC1被并行触发。
在ADC0 或 ADC1
的转换事件结束时,即 ADC0 和 ADC1 的注入通道组被转换完,会产生一 个EOIC 中断
。其转换的数据被存储在各自的ADC_IDATAx
寄存器中。
注意:
1.不要在两路 ADC 上转换相同的通道(两路 ADC 在同一通道转换时采样时间不可重叠)。
2.在并行模式下,ADC0 和 ADC1 并行采样的两个通道的需要设置为准确的相同采样时间。
此模式应用于规则通道组(通常一个通道),外部触发来源于规则通道组的
ADC0
的多路开关 (由ADC_CTL1
寄存器的ETSRC[2:0]
决定)。
当触发产生时,ADC1 立刻启动,而 ADC0 在7
个 ADC 时钟周期后启动。
如果 ADC0 和 ADC1 的 CTN 位被置位,所选的规则通道组在两个 ADC 中被不停的转换。
32 位 ADC_RDATA 寄存器
包含上半字(由 ADC1 转换的数据构成)和下班字(由 ADC0 转换 的数据构成)。
在ADC0
产生EOC 中断
后(可通过置位EOCIE 位
),可通过 32 位 DMA 将 ADC_RDATA 中数据传送到 SRAM。
注意:
可允许的最大采样时间必须小于 7 个 ADC 采样时钟,从而避免 ADC0 和 ADC1 在转换相同通道时出现采样时钟重叠。
此模式应用于规则通道组(通常一个通道),外部触发来源于规则通道组的
ADC0
的多路开关 (由ADC_CTL1 寄存器
的ETSRC[2:0]
决定)。
当触发产生时,ADC1
立刻启动,而ADC0
在14
个 ADC 时钟周期后启动,在ADC0
启动后的14
个时钟周期,ADC1
再次启动。
该模式下不需要使用连续模式,因为该模式本身会连续转换规则组。
32 位 ADC_RDATA
寄存器包含上半字(由 ADC1 转换的数据构成)和下半字(由 ADC0 转换 的数据构成)。
在ADC0
产生EOC 中断
后(可通过置位EOCIE 位
),可通过 32 位DMA
将ADC_RDATA
中数据传送到SRAM
。
注意:
1.可允许的最大采样时间必须小于 14 个 ADC 采样时钟,从而避免 ADC0 和 ADC1 在转换相同通道时出现采样时钟重叠。
2.在快速交叉模式和慢速交叉模式下,必须确保没有注入通道事件被外部触发。
此模式应用于注入通道组(通常一个通道),外部触发来源于
注入通道组
的 ADC0 的多路开关(由 ADC_CTL1 寄存器的ETSRC[2:0]
决定)。
当第一次触发发生,ADC0
所有的注入通道
被转换。
当第二次触发发生,ADC1
所有的注入通道
被转换。
如果 ADC0 和 ADC1 的 EOIC 中断被使能,二者的通道被转换完毕,其相应的中断就会被触发。
如果所有的注入通道组转换完成后另一个外部触发发生,那么交替触发进程将通过转换 ADC0注入通道组实现重启。
如果
使能 ADC0 和 ADC1 间断模式
,
当第一次触发发生,ADC0 转换第一组注入通道。
当第二次触发发生,ADC1 转换第一组注入通道。
然后,ADC0 转换第二组注入通道,ADC1 转换第 二组通道,以此类推。
如果 ADC0 和 ADC1 的 EOIC 中断被使能,二者的通道被转换完毕,其相应的中断就会被触 发。
如果所有的注入通道组转换完成后另一个外部触发发生,那么交替触发进程将实现重启。
在独立模式下,规则通道组的转换可以被注入通道组的转换所中断。
在 ADC 同步模式下,注 入并行通道组的转换也可以中断规则并行通道组的转换。
注意:在规则并行和注入并行组合模式下,两路通道的采样时间应该被设置成相同值。
注入通道组的交替触发转换的启动可以中断规则通道组的并行转换。如图所示,交替触发中断规则并行转换。
当注入通道事件发生时,注入交替转换立刻启动。如果规则转换此刻正在运行, 为保证注入 通道组转换启动后的同步,规则通道组在两路 ADC 的转换停止。当注入通道组转换完成后, 规则通道组的转换同步启动。
注意:在规则并行和交替触发组合模式下,两路通道的采样时间应该被设置成相同值。
通过注入转换可以中断交叉转换,当注入触发发生时,交叉变换被中断,注入转换启动。在注入转换完成后,交叉转换恢复,如图 12-22 所示。
以下任一个事件发生都可以产生中断:
规则组和注入组转换结束;
模拟看门狗事件;
单独的中断使能位可使得使用更灵活。
ADC0、ADC1 和 ADC2 都被映射到同一个中断向量 ISR[18]。
寄存器这里比较重要,以最高标题解析
ADC0 基地址:0x4001 2400
ADC1 基地址:0x4001 2800
ADC2 基地址:0x4001 3C00
地址偏移:0x00
复位值:0x0000 0000
该寄存器只能按字(32位)访问
地址偏移:0x04
复位值:0x0000 0000
该寄存器只能按字(32位)访问
地址偏移:0x08
复位值:0x0000 0000
该寄存器只能按字(32位)访问
地址偏移:0x0C
复位值:0x0000 0000
该寄存器只能按字(32位)访问
地址偏移:0x10
复位值:0x0000 0000
该寄存器只能按字(32位)访问
地址偏移:0x14-0x20
复位值:0x0000 0000
该寄存器只能按字(32位)访问
地址偏移:0x24
复位值:0x0000 0FFF
该寄存器只能按字(32位)访问
地址偏移:0x28
复位值:0x0000 0000
该寄存器只能按字(32位)访问
地址偏移:0x2C
复位值:0x0000 0000
该寄存器只能按字(32位)访问
地址偏移:0x30
复位值:0x0000 0000
该寄存器只能按字(32位)访问
地址偏移:0x34
复位值:0x0000 0000
该寄存器只能按字(32位)访问
地址偏移:0x38
复位值:0x0000 0000
该寄存器只能按字(32位)访问
地址偏移:0x3C-0x48
复位值:0x0000 0000
该寄存器只能按字(32位)访问
地址偏移:0x4C
复位值:0x0000 0000
该寄存器只能按字(32位)访问
地址偏移:0x80
复位值:0x0000 0000
该寄存器只能按字(32位)访问
源码内容庞大,本文章是容不下了,注释的非常清晰,但是对于ADC的初始化有多种选择,具体采用哪种还要看实际项目,如果想看源码的,请看源码:
一定要边看代码,边看手册,才能真正领悟其中的真谛
GD32F30x系列ADC源码,对初学者参考价值巨大,(非常详细篇)万字源码
ADC内容繁多,而且实际运行中还配合DMA(直接存储器访问)和RCU(复位时钟单元)等一起使用,ADC外设时钟一般和APB时钟相连,而APB和AHB时钟相连,环环相扣,初始化时一定要配置妥当,更多的经验我们在实战中吸取吧!