什么是分立器件高速测试系统，如何进行ATE测试?

分立器件高速测试系统是一种用于测试分立器件性能的自动化测试系统。它能够对各种类型的分立器件进行功能和交参数测试，如二极管、三极管、绝缘栅型场效应管、结型场效应管、单向和双向可控硅、普通和高速光耦、整流桥、共阴共阳二极管及多阵列器件等各类半导体分立器件。

该测试系统具有高压源和高流源的配置，能够输出脉冲信号源，满足各种分立器件的测试需求。

分立器件高速测试系统适用于测量中小功率三极管、场效应管等分立器件的高速性能。测试项目包括二极管极性的自动识别极性、最大整流电流、正向压降等;三极管直流电流放大倍数、穿透电流等;场效应管饱和漏电流、夹断电压、开启电压等。

芯片自动化测试系统ATECLOUD-IC

测试产品：芯片半导体器件。纳米软件ATECLOUD-IC芯片自动化测试系统适用于二极管、三极管、绝缘栅型场效应管、结型场效应管、单向和双向可控硅、普通和高速光耦、整流桥、共阴共阳二极管及多阵列器件等各类半导体分立器件综合性能自动化测试。

被测项目：温度测试、耐电压测试、引脚可靠性测试、ESD抗干扰测试、运行测试、X射线侵入测试等。

测试场景：研发测试、产线测试、老化测试、一测二测等。

ATECLOUD-IC测试优势：

支持MCU、Analog IC、ADC、HIC、IGBT及分立器件全方位测试;

ns级高精度同步测试;

人性化操作界面，可快速理解、快速上手;

无代码快速搭建测试工步，灵活调整可快速扩展;

支持多工位高速并行测试;

高效支持表征、功能评估和批量生产评估;

已兼容2000+仪器型号，包含是德、泰克、R&S普源、鼎阳、艾德克斯等厂家，支持设备持续扩展;

具备数据洞察及大数据分析功能，为科研生产提供数据支撑;

适用于研发/中试/生产芯片全生命周期的应用。

ATECLOUD-IC功能介绍

快速方案搭建，一键运行测试

● 支持多种测试项目配置并可重复使用，批量测试;

● 自动存储测试数据和图片数据;

● 具有设备自检功能，提示甲方设备离线或不存在;

● 测试过程实时观测，自动判别产品是否合格。