ERPLAB脑电数据分析教程

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1、安装与预设

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实战数据

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2、背景概念

DataSet:被试数据导入EEGLAB称之为DataSet,各个预处理步骤会更新DataSet

ERPsets:对各个Bin对应的分段进行叠加平均,生成的平均ERP波形对应于一个ERPset。ERPset可以存储在磁盘上,包含了各种条件下的ERP波形

Bins:一种条件(或条件的组合)的刺激对应于一个Bin

3、ERPLAB处理数据的步骤

(1)导入数据

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(2)定位电极

eeglab

(3)去除无用电极

eeglab

(4)滤波

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(5)降采样率

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(6)创建EVENTLIST

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(7)创建bin

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(8)分段

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(9)去坏段、替换坏导联

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(10)去伪迹成分

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(11)去除伪迹较大的分段

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(12)重参考

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(13)计算平均ERPs

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(14) Plot波形图、地形图

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(15)测量ERP与导出数据

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(1)导入数据(厂商的数据格式;EEGLAB自带格式;文本文档;.mat文件)

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2)定位电极(标准位置模板;自定义文件;手工查找位置)

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(3)去除无用电极

BP:HEO, VEO

Neuroscan: HEO, VEO, CB1, CB2, Trigger

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 (4)滤波

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(5)降采样率

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(6)创建EVENTLIST(是为了后面创建bin

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必须注意的是:在创建EVENTLIST时,实验过程中的所有MARK都要写入,以防后面建BIN出现问题。

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有两种方法可以查看刚刚建立的list(可以用于检查,不是必须要操作的步骤)

第一种:在MATLAB命令窗口输入“EEG.EVENTLIST”,会出现如下内容

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第二种:MATLAB的文本编辑器中直接打开创建好的文本文件(list.txt)。如下所示

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(7)创建bin

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打开的空白编辑器是这样的

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但是建bin需要注意的地方有:

1、必须是在英文字符状态下编写。

2、bin编号必须从1开始,并且编号是连续的,如从bin1开始,按bin1,bin2,bin3的顺序往下写,不要间断。

3、写bin分为3步:第1行写bin的编号;第二行写一句话,用来描述该刺激条件;第3行写条件锁时和反应限制,并且“.”代表以哪个Mark为零点。

4、一般会有3种锁时情况:限刺激锁时;限刺激锁时的反应时间;限反应锁时。接下来一一列举。

限刺激锁时:

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限刺激锁时的反应时间:

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限反应锁时:

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本手册中,示例数据的bin是这样写的

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写完之后保存为bin.txt文件或者bin.m格式的文件

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(8)分段和基线校正(基于bin进行分段)

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(9)去坏段替换坏导联

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a) 去坏段

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b) 插值坏导

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(10去伪迹成分(运行ICA;去伪迹成分) 

a) 运行ICA

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否则ICA运行会终止!

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运行完ICA对数据进行保存

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b) 去伪迹成分(水平眼电、垂直眼电)

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 把要删除的成分(水平眼电、垂直眼电等)打开,点击ACCEPT变成REJECT,再点OK。

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11去除伪迹较大的分段(峰-峰检验;平均波幅检验;阶跃伪迹)

a) 以峰-峰检验为例

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导出伪迹拒绝率

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b) 以平均波幅为例

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c) 阶跃伪迹

用峰-峰检验标记伪迹后,再做阶跃伪迹检验,在这个实验例子中,检测HEOG通道(通道16)中的水平眼动。

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可以在EventList中查看伪迹信息,先把EventList导出

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直接打开导出的文本文档,或者用Matlab文本编辑器打开文本文件,显示如下:

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伪迹拒绝(a_flags)这一列,每个被拒绝的试次在这列最右侧会看到标识1。峰-峰检验中有些events设置了标识4。其他events在阶跃函数中设置了标识3,还有些events同时设置了标识3和标识4,表明这两种类型的伪迹都被检测到了。这一信息对于行为分析中排除特定伪迹的试次是有用的。

(12重参考(双侧颞乳突参考;全脑平均参考)

a) 双侧颞乳突参考

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b) 全脑平均参考

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(13计算平均ERPs

a) 单被试平均

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b) 所有被试总平均

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接下来把总平均的数据重命名,进行保存即可

(14plot 波形图、地形图

a) plot ERP波形图

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b) plot ERP地形图

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(15测量ERP指标

从ERPLAB中选择Load existing ERPset打开ERPset数据文件;如果已经加载了,就在ERPset菜单栏中选择它。

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加载之后,在ERPLAB中选择ERP Measurement Tool

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点击Viewer  

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Create plot(导出的图形显示如下)

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整个ERP Measurement Tool 设置完成后,点击RUN,对数据进行保存

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