试验类别
|
试验项目
|
依据标准
|
试验条件
|
抽样方案
|
||||
LTPD
|
SS
|
C
|
||||||
机械完整性
|
模块非工作状态
|
机械冲击
|
MIL-STD-883G-2002.4;Telcordia GR-468-CORE 3.3.1.1
|
1)冲击脉冲峰值300g,脉冲持续时间3.0ms, X
1
, X
2
, Y
1
, Y
2
, Z
1
和Z
2
共6轴向冲击各次数5次
a
;
2)冲击脉冲峰值50g,脉冲持续时间11.0ms, X
1
, X
2
, Y
1
, Y
2
, Z
1
和Z
2
共6轴向冲击各次数5次
b
。
|
20
|
11
|
0
|
|
变频振动
|
MIL-STD-883G-2007.3
|
条件A(峰值加速度20g),频率20Hz
~
2000Hz~20Hz;振动频率循环周期大于4min,在X、Y、Z三个方向各进行循环4次。
|
20
|
11
|
0
|
|||
光纤完整性
|
光纤侧拉
|
Telcordia GR-468-CORE 3.3.1.3
|
0.25kg/0.5kg
c
;90
0
;距离模块22cm~28cm
|
20
|
11
|
0
|
||
光纤扭转
|
Telcordia GR-468-CORE 3.3.1.3
|
0.5kg/1.0kg
d
;90
0
;距离模块3cm;0
0
~90
0
~0
0
,10个循环
|
20
|
11
|
||||
光纤保持力
|
Telcordia GR-468-CORE 3.3.1.3
|
0.5kg/1.0kg
c
;距离光纤未扣牢端至少10cm,加载速率为400μm/s,保持1分钟
|
20
|
11
|
||||
插拔耐久性
|
Telcordia GR-468-CORE 3.3.1.4
|
200次
|
20
|
11
|
0
|
|||
模块工作状态
|
变频振动
e
|
Telcordia GR-468-CORE 3.3.1.1
|
峰值加速度5g,频率10Hz
~
100Hz
~
10Hz;振动频率循环周期大于1min,在X、Y、Z三个方向各进行循环10次。
|
20
|
11
|
0
|
||
耐久性
|
模块
非工作状态
|
恒定湿热
|
Telcordia GR-468-CORE 3.3.2.3
|
+85
0
C,85%RH,
≥
500h
|
20
|
11
|
0
|
|
高温存储
|
Telcordia GR-468-CORE 3.3.2.1
|
+85
0
C,
≥
2000h
|
20
|
11
|
0
|
|||
温度循环
|
Telcordia GR-468-CORE 3.3.2.2
|
温循范围-40
0
C
~
+85
0
C,循环周期大于100次/500次
f
,要求温度变化率
≥
10
0
C/min,高低温保持时间
≥
10min。
|
20
|
11
|
0
|
|||
低温存储
g
|
Telcordia GR-468-CORE 3.3.2.1
|
-40
0
C,
≥
72h
|
20
|
11
|
0
|
试验类别
|
试验项目
|
依据标准
|
试验条件
|
抽样方案
|
|||
LTPD
|
SS
|
C
|
|||||
耐久性
|
模块工作状态
|
恒定湿热
h
|
Telcordia GR-468-CORE 3.3.2.3
|
+85
0
C,85%RH,
≥
1000h
|
20
|
11
|
0
|
高温工作
|
Telcordia GR-468-CORE 3.3.3.1
|
+70
0
C/+85
0
C
i
,
≥
2000h
|
20
|
11
|
0
|
||
温度循环
j
|
Telcordia GR-468-CORE 3.3.2.2
|
温循范围-40
0
C
~
+85
0
C,(测试具备TEC的模块TEC功能需打开),循环周期大于100次/500次
f
,要求温度变化率
≥
10
0
C/min,高低温保持时间
≥
10min。
|
20
|
11
|
0
|
||
耐湿
|
Telcordia GR-468-CORE 3.3.3.2;MIL-STD-883G-1004.7
|
循环次数为20
k
|
20
|
11
|
0
|
||
物理特性试验
|
ESD
阈值
|
MIL-STD-883G-3015.7
|
第0类:<250
V
;
第1类:
1A:250V~499V;
1B:500V~999V;
1C:1000~1999V;
第2类:2000V~3999V;
第3类:
3A:4000V~7999V;
3B:
≥
8000V。
|
-
|
6
|
0
|
|
a 该测试条件适用于质量
≤
0.225Kg的模块。
b 该测试条件适用于质量>0.225Kg且
≤
1
.0
Kg的模块。
c 该测试项条件a/b中,a适用于紧包缓冲层光纤,b适用于松包缓冲层光纤和加强性光纤。
d 该测试项条件a/b中,a适用于紧包缓冲层光纤和松包缓冲层光纤,b适用于加强性光纤。
e
该测试项为可选项。
f 测试条件中100次适用于工作环境为CO的应用,500次适用于工作环境为UNC的应用。
g 该测试项为可选项。
h 该测试项为可选项,仅适用于非密封模块。
i 测试条件中+70
0
C适用于工作环境为CO的应用,+85
0
C适用于工作环境为UNC的应用
j 该测试项为可选项。
k 该测试项适用于模块工作环境为UNC的应用,当在设备内部模块的工作温度变化速率量级在小时或几小时时,测试的循环次数可减小为10次,但最后的低温子循环不能减少。
|