利用近场探头和频谱仪查找EMI辐射问题

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电磁兼容性（Electromagnetic Compatibility，简称EMC）是指设备或系统在其电磁环境中符合要求运行并不对其环境中的任何设备产生无法忍受的电磁干扰的能力。因此，EMC包括两个方面的要求：一方面是指设备在正常运行过程中对所在环境产生的电磁干扰不能超过一定的限值，即电磁干扰(Electromagnetic Interference 简称EMI)；另一方面是指器件对所在环境中存在的电磁干扰具有一定程度的抗扰度，即电磁敏感性（Electro Magnetic Susceptibility，简称EMS）。

 

电磁干扰(Electromagnetic Interference 简称EMI)又分为传导干扰和辐射干扰两种。传导干扰是指通过导电介质把一个电网络上的信号耦合(干扰)到另一个电网络。辐射干扰是指干扰源通过空间把其信号耦合(干扰)到另一个电网络，在高速PCB及系统设计中，高频信号线、集成电路的引脚、各类接插件等都可能成为具有天线特性的辐射干扰源，能发射电磁波并影响其他系统或本系统内其他子系统的正常工作。

传统的EMI辐射测试往往借助EMI接收机，在专业实验室的暗室里进行，这固然可以对产品的整体EMI辐射做严格的测试，但往往测试周期长、费用较高，加之远场测试只能测出结果，而不能给出具体辐射的位置，所以给产品的设计和改善带来不小的麻烦。随着测试测量仪器的发展，近几年，近场探头和频谱分析仪的组合个EMI辐射的测试定位带来了新的方向。

下图为采用一个近场探头和实时频谱分析仪对一个电路进行辐射源的查找，我们可以很清楚的观测到在近场探头附件有四个主要频率的辐射，这对于硬件工程师进行设计的改善是具有极大帮助的。