B001-Atmega16-带电复位后不清0的.noinit变量
《AVR单片机原理与GCC编程实践》P117讲到AVR代码段时，提到了.bss段中包含了一个很有意思的.noinit段。
.noinit段描述：
.bss段的变量在芯片启动的 .init4阶段会被清0，但是定义在 .bss的 .noinit段中的变量在 .init4阶段不会被清0。单片机不掉电复位后， .noinit段的这些变量的值依然存在，可以继续使用。
.noinit段的定义方法：int bar __attribute__ ((section (".noinit")));
不能指定初值，因为这些变量是在 .bss段。
.noinit段变量的复位测试：
也就是说、如果我在.noinit段定义一个变量，按下开发板的复位键(单片机不掉电复位)，这个变量的值不会被清0。
下面是测试代码，我在.noinit段定义了变量bar，初值未知。
8bit的bar正好可以用连接在PORTB的8个LED灯来显示它的数值。
每次进入程序后、bar++，所以每按一次复位键，bar对应的8个LED灯的二进制数值就加1(二进制计数器)。
测试代码：
#include <avr/io.h>
uint8_t bar __attribute__ ((section(".noinit")));
int main(void)
{
bar++;
DDRB = 0xFF;
PORTB = 0xFF;
PORTB = bar;
while(1) { }
return 0;
}
测试结果：
我的8个LED是低推的，所以点亮的LED对应的引脚逻辑值是0，熄灭的LED对应的引脚逻辑值是1。
于是得到下面的结果：
程序下载到开发板后，这一次bar的初值是00000001(这次比较巧)，每按一次复位键，bar的值都加1了。
重新下载程序后，bar的初值也会自己加1，也相当于单片机不掉电复位。
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使用.noinit特性测试BOD掉电：
2016.05.30
今天发现.noinit的特性还可以测试BOD掉电。
依然是使用上面的代码中的.noinit，加上PA0输出脉冲，同时查看PORTB的二进制计数器来得知复位次数。
代码如下：
int main(void)
{
// PA0为输出口
DDRA = (IO_OUTPUT << DDA0);
// 记录复位次数
_noinit_using();
while(1)
{
// PA0拉高
PORTA = (1 << PA0);
// 维持0.5秒
delay_ms(500);
// PA0拉低
PORTA &= ~(1 << PA0);
// 维持0.5秒
delay_ms(500);
}
return 0;
}
其中的_noinit_using()如下：
volatile uint8_t v_noinit __attribute__ ((section(".noinit")));
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// 通过观察PORTB上的8位LED的状态得知复位次数
// ==========================================================================================================
void _noinit_using(void)
{
v_noinit++;
// 8位LED,低推
DDRB = 0xFF;
PORTB = 0xFF;
PORTB = v_noinit;
}
测试结果：
1、当前芯片BOD监测的电压是4.0V
2、使用.noinit可以测试复位次数(二进制计数器)
3、每次将电压源电压低到<3.7V,就会引发复位，而PORTB的二进制计数器就会加1
4、而且低到1V以下,复位后依然可以记住上一次的.noinit变量的值,大概是没有完全掉电的缘故
5、正常工作时可以看到PA0的脉冲，复位时中断。
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使用.noinit特性测试看门狗WDT：
在另一篇测试WDT效果的文章中，还是用这个.noinit+二进制计数器的方法测试了WDT的复位：
http://blog.csdn.net/manon_des_source/article/details/51540217