STM32F10x_模拟I2C读写EEPROM（3）（读写E2备份区 + 校验位 + 完整代码 + 应用实例）

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前言

• 关于此文一些名词术语不太理解的，可以去看我这篇博文
  → 《STM32F10x_模拟I2C读写EEPROM（1）》

• 模拟I2C读写函数，可以去看我这篇博文
  → 《STM32F10x_模拟I2C读写EEPROM（2）
  （切换SDA方向 + 读ACK位 + 完整代码）》

• E2的中文资料可以到我博客资源里下载，没有积分下载的，可以评论Ding我o(￣▽￣)ブ

一、宏定义

// 此文的E2型号 - AT24C512

#define EEPROM_Page			 0x80u    				//EEPROM一页长度 128
#define Len_MaxVariable		 126u    				//参数的最大长度

#define EEPROM_BackUp		(x * EEPROM_Page)      	//备份地址 从第x页开始
#define EEAddr_Page(n)   	(n * EEPROM_Page)    	//第n页地址

二、读 E2 函数 （备份区+校验判断）

• 1.校验和计算及检测函数

   /*******************************************************************************
  功能描述：检查若干字节累加和校验码正确性
  输入参数：*pData: 源数据指针
  				len: 数据字节数
  返回参数：检查结果：
  			   TRUE, 累加和校验正确
  			  FALSE, 累加和校验错误
  函数说明：计算所得累加和校验SumCheck
  *******************************************************************************/
  bool Check_Sum(const uint8_t *pData, uint8_t len)
  {
  	uint16_t Sum = 0;
  	uint16_t SumCheck = 0;
  	
  	while(len--)
  	{
  	   Sum += *pData;
  	   pData++;
  	}
  	
  	SumCheck = ((uint16_t)(*pData) << 8);
  	pData++;
  	SumCheck |= ((uint16_t)(*pData));
  	
  	if(Sum == SumCheck)
  	{
  		return TRUE;		//返回校验正确
  	}
  	else
  	{
  		return FALSE;		//返回校验错误
  	}
  }
  

• 2.读 E2 函数（备份区 + 校验判断）

  
  /********************************************************************
  * 函数名：EEPROM_ReadVariable
  * 参数：  Addr  : 变量在EEPROM中地址 
  * 		 *pData:读出的缓存 
  * 		 Length:长度
  * 用途： 带校验位读取变量
  ********************************************************************/
  bool EEPROM_ReadVariable(uint16_t Addr, uint8_t *pData, uint8_t Length)
  {
  	uint8_t temp[Len_MaxVariable + 2];            		//最大数据长度 + 2校验位
  	
  	// 关闭外部中断 并 清除外部中断标志位
  	EXTI->IMR &= ~(EXTI_Line1);
  	EXTI_ClearFlag(EXTI_Line1);
  	
  	EEPROM_ReadSequential(Addr, temp, Length + 2);     	//包括校验位将主区数据读取出来
  	if(TRUE != Check_Sum(temp, Length)) 				//若主区校验不正确
  	{
  		delay_ms(5);  
  		EEPROM_ReadSequential(Addr + EEPROM_BackUp, temp, Length + 2);      //读取备份区数据
  		if(TRUE != Check_Sum(temp, Length))									//若备份区校验也不正确
  		{
  			return FALSE;                         		//返回读失败
  		}
  	}
  	
  	// 打开外部中断
  	EXTI->IMR |= EXTI_Line1;
  	
  	CopyBuff(pData, temp, Length);	//将数据复制到接收缓存中
  	return TRUE;					//返回读成功
  }
  	
  

三、写 E2 函数（备份区+校验）

• 1.校验和生成函数

  /*******************************************************************************
  功能描述：	根据若干字节获得累加和校验码
  输入参数：	*pData:	源数据指针
  			len:	数据字节数
  函数说明：	计算所得累加和校验Sum
  *******************************************************************************/
  void Fetch_Sum(uint8_t *pData, uint8_t len)
  {
  	uint16_t Sum = 0;
  	while(len--)
  	{
  		Sum += *pData;
  		pData++;
  	}
  	*pData	= (uint8_t)(Sum >> 8);
  	pData++;
  	*pData	= (uint8_t)Sum;
  }
  

• 2.写 E2 函数（备份区 + 生成校验和）

  
  /********************************************************************
  * 函数名：EEPROM_WriteVariable
  * 参数：  Addr  : 变量在EEPROM中地址 
  * 		 *pData:要写的缓存 
  * 		 Length:长度
  * 用途： 带校验写变量
  ********************************************************************/
  void EEPROM_WriteVariable(uint16_t Addr, uint8_t *pData, uint8_t Length)
  {
  	uint16_t addr_temp[2] = {0};
  	uint8_t temp[Len_MaxVariable + 2];			//最大长度数据 + 2校验位
  	addr_temp[0] = Addr;						//E2主区数据地址
  	addr_temp[1] = Addr + EEPROM_BackUp;		//E2备份区数据地址
  	
  	// 关闭外部中断 并 清除外部中断标志位
  	EXTI->IMR &= ~(EXTI_Line1);
  	EXTI_ClearFlag(EXTI_Line1);
  	
  	CopyBuff(temp, pData, Length);                 //将要写的缓存复制到temp临时缓存中
  	Fetch_Sum(temp, Length);                       //累加获得校验码
  	
  	delay_ms(5);
  	EEPROM_WritePage(addr_temp[0], temp, Length + 2);   //将数据写入E2主区
  	delay_ms(5);  
  	EEPROM_WritePage(addr_temp[1], temp, Length + 2);   //将数据写入E2备份区
  	
  	// 打开外部中断
  	EXTI->IMR |= EXTI_Line1;
  }
  

四、读写 E2 应用实例

uint8_t	temp1[4] = {0x12, 0x34, 0x56, 0x78};
uint8_t	temp2[4] = {0};

// 写E2
EEPROM_WriteVariable(EEAddr_Page(100), temp1, 4);

delay_ms(10);		//进行连续操作读写E2时，中间需要增加时间间隔5 ~ 10ms

// 读E2
EEPROM_ReadVariable(EEAddr_Page(100), temp2, 4);

printf("\n\r %02x", temp2);

五、小结

• 欢迎纠正
• ☆⌒(*＾-゜)v THX!!
• 码字不易，记得点小心心 ( •̀ ω •́ )✧