嵌入式从业者应知应会知识点 - 索引

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大家好，我是痞子衡，是正经搞技术的痞子。本系列痞子衡给大家介绍的是嵌入式从业者应知应会知识点。

嵌入式开发需要掌握的知识点非常多，不同的技术方向有不同的知识侧重点，本系列试图整理总结嵌入式开发（尤其是软件）中那些必须要会的知识点，试图给你呈现一幅嵌入式界的清明上河图，本系列计划连更十年，且让时间给答案。

本系列文章会逐一介绍嵌入式开发者应该懂的那些知识点：

计算机原理篇（持续更新中…1/2）

不可不知的计算机原理知识（1）- 整数表示(原码,反码,补码)
不可不知的计算机原理知识（2）- 浮点数表示

嵌入式碎片集（持续更新中…9/10）

嵌入式里堆栈原理及其纯C实现
ARM Cortex-M内核下字节对齐访问问题
嵌入式里通用微秒(microseconds)计时函数框架设计与实现
嵌入式里串口(UART)自动波特率识别程序设计与实现(中断)
嵌入式里串口(UART)自动波特率识别程序设计与实现(轮询)
嵌入式Cortex-M中标准的三重中断控制设计
嵌入式Cortex-M裸机环境下临界区保护的三种实现
嵌入式Cortex-M中断向量表原理及其重定向方法
嵌入式Cortex-M中断向量表对齐原则的深入研究
嵌入式Cortex-M系统中断延迟及其测量方法简介

代码规范篇（持续更新中…4/4）

开源软件协议(MIT/BSD/Apache/LGPL/MPL/GPL)
飞思卡尔半导体软件开发C代码规范
恩智浦SDK驱动代码风格、模板、检查工具
恩智浦SDK驱动代码风格检查工具预览版

数据差错控制篇（持续更新中…3/6）

常用的数据差错控制技术（1）- 重复校验(Repetition Code)
常用的数据差错控制技术（2）- 奇偶校验(Parity Check)
常用的数据差错控制技术（3）- 和校验(Checksum)
常用的数据差错控制技术（4）- 循环冗余校验(CRC)
常用的数据差错控制技术（5）- 汉明码校验(Hamming Code SEC-DED)
常用的数据差错控制技术（6）- 博斯-乔赫里-霍克文黑姆码校验(BCH Code)

Keil MDK知识篇（持续更新中…2/2）

一个奇怪的Keil MDK下变量链接强制对齐报错问题(–legacyalign)
在MDK开发环境下将关键函数重定向到RAM中执行的几种方法

IAR EWARM知识篇（持续更新中…12/12）

在IAR开发环境下为工程开启CRC完整性校验功能的方法
探析开启CRC完整性校验的IAR工程生成.out和.bin文件先后顺序
一次利用IAR自带CRC完整性校验功能的实践(为KBOOT加BCA)
在IAR开发环境下将关键函数重定向到RAM中执行的三种方法
在IAR开发环境下将整个源文件代码重定向到任意RAM中的方法
在IAR开发环境下RT-Thread工程自定义函数段重定向失效分析
深扒IAR启动函数流程及其__low_level_init设计对函数重定向的影响
深扒IAR启动函数流程之段初始化函数__iar_data_init3实现
深扒IAR启动函数流程之段初始化实现中可用的压缩选项(zeros/packbits/lz77)
IAR内部C-SPY调试组件配套宏文件(.mac)用法介绍
浅析IAR下调试信息输出机制之硬件UART外设
浅析IAR下调试信息输出机制之半主机(Semihosting)

JLink工具知识篇（持续更新中…1/1）

JLink Script文件基础及其在IAR下调用方法

存储器冷知识篇（持续更新中…2/2）

国内外串行NOR Flash厂商官网Cross Reference功能使用体验
存储器大厂Micron的NOR Flash芯片特殊丝印设计(FBGA代码)