LCR数字电桥测量兆欧级高阻值抗电阻的原因分析

用不同品牌的LCR数字电桥或者同一品牌LCR数字电桥的不同型号，对兆欧级高阻值电阻进行测量时，以下是解决LCR数字电桥测量兆欧级高阻值电阻问题的方法，供大家参考。

电阻

　　LCR数字电桥测量兆欧级高阻值抗电阻

　　高阻值包含一个寄生pF级电容，该电容与电阻并联在一起：

　　确认使用LCR数字电桥测试高阻值电阻时，应选择Cp-Rp测试功能(并联等效电路模式)，使测试电路模式与电阻的实际等效电路相匹配。

　　Xp代表寄生电容在测试频率上的电抗(电容性阻抗)，公式“D”代表电阻在测试频率上的损耗因素。

　　如果使用R-X测试功能来测试电阻，那么LCR电桥要采用如下所示的串联等效电路：

　　串联等效电路模式(R-X测量中)不同于高值电阻的实际并联等效电路，R-X模式中的被测电阻与实际并联电阻(RP)不一致。

　　从理论上讲，串联电阻(Rs)与并联电阻(Rp)的关系可用等式RS=Rp*D2(1+D2)表示，此处串联和并联等效电路的损耗因数(D)值是相等的：

　　当D值不够高(纯电阻性)时，串联电阻(Rs)总是低于并联电阻(Rp)。

　　所以，在使用LCR数字电桥测量高阻值电阻时，请选择Cp-Rp测试功能(并联等效电路模式)，或者使用万用表M档进行测试及购买专业电阻测试仪设备。