【AUDIO音频兴趣拓展】IOT产品声学结构设计_四、硬件性能测试

一、测试整机的硬件性能-密封性-自由场

1. 在自由场内， 播放 80dBSPL 粉红噪声， 正常录取每个 mic 的信号;
2. 分别堵上每个 mic,重复 1 的操作；
3. 比较上面两次的录音结果；
4. 确定每个 mic 都能录取到信号， 并且录取到的信号走势符合粉红噪声；
5. 在堵与不堵的情况下， 两次录取的同一 mic 的信号差别应该> 30dB,此情况下说明 mic密封性比较好。

二、 测试整机的硬件性能-密封性-正常手持

1. 把手机放置在 HATS 的正常位置， 测试 P501 Echo；
2. 使用 log mask 开始抓 log；
3. 解析 log,看 Nearend_Input 节点信号;；
4. 检查受话器到主副 mic 的 echo 的幅值， 如果主 mic 的信号幅值比副 mic 还大， 说明内部存在密封性问题。

 

三、测试整机的硬件性能-手持模式-麦克风隔离度
 

1. 把手机放置在 HATS 的正常位置， 人工嘴播放 P501 信号；
2. 开启 QXDM 抓 log；
3. 解析 log,看 nearend_input 节点信号；
4. 检查两个 mic 输入的信号幅值,频响， 以及 PCB 的 noise 大小。

四、测试整机的硬件性能-正常手持-分析信号幅值

检查 nearend_input 的主 mic 的信号不要大于-24dBFS
 

五、测试整机的硬件性能-正常手持-分析TCLw信号

检查比较 EC_Far 和 EC_Near 的信号，正常情况下面由于空间导致的回音， EC_Near 应该和 EC_Far 保持线性且小于 EC_Far。