【EI会议征稿通知】第三届机器视觉、自动识别与检测国际学术会议(MVAID 2024)

第三届机器视觉、自动识别与检测国际学术会议(MVAID 2024)
2024 3rd International Conference on Machine Vision, Automatic Identification and Detection 

     第三届机器视觉、自动识别与检测国际学术会议(MVAID 2024)定于2024年4月26至28日在中国昆明隆重举行。MVAID 2024将围绕“信息科学”与"教育”等相关最新研究领域,为来自国内外高等院校、科学研究所、企事业单位的专家、教授、学者、工程师等提供一个分享专业经验,扩大专业网络,面对面交流新思想以及展示研究成果的国际平台,探讨本领域发展所面临的关键性挑战问题和研究方向,以期推动该领域理论、技术在高校和企业的发展和应用,欢迎各位领域内专家学者投稿参会!

【重要信息】

会议官网:http://www.mvaid.net (点击参会/投稿/了解会议详情)

会议时间:2024年4月26日-28日

大会地点:中国昆明

提交检索:EI Compendex、Scopus

*往届均已成功见刊检索,最快会后3个月EI检索*

 

【合作单位】

【EI会议征稿通知】第三届机器视觉、自动识别与检测国际学术会议(MVAID 2024)_第1张图片

江苏大学制造业信息化研究中心.png

【会议委员会】

大会主席

尤著宏 教授,西北工业大学

程序委员会主席

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顾寄南 教授,江苏大学

出版主席

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金人超 教授,华中科技大学

【组委会成员】

刘辉 教授,昆明理工大学

陶俊 教授,江汉大学

赵海森 教授,山东大学

张正 副研究员,北方工业大学

陈雷 副教授,山东大学

高万夫 副教授,吉林大学

李军 副教授,华南师范大学

王国庆 教授,电子科技大学

陶焕杰 副教授,西北工业大学

宋淼 副教授,上海海事大学

曹晓锋 副教授,吉林大学

 

【论文出版与检索】

所有的投稿都必须经过 2-3 位组委会专家审稿,经过严格的审稿之后,最终所有被录用的稿件将发表在会议论文集中,版后提交 EI Compendex和Scopus检索。(目前EI检索稳定,往届均已检索,最快会后3个月检索!)

*优秀论文经扩展后可推荐至SCI评审、发表。

往届检索记录

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*MVAID 2023 见刊记录

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*MVAID 2023 检索记录

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*MVAID 2022 见刊记录

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*MVAID 2022 检索记录

【征文主题】(包括但不限于)

机器视觉 自动识别与检测技术

计算机视觉

主动视觉

三维视觉

机器学习

人工智能

大数据和数据挖掘

深度学习

图像处理

图像处理方法

计算成像

机器视觉

机器视觉系统和组件

自动识别中的人工智能技术

生物识别(包括人脸识别)
文件处理与识别
进阶学习方法
线性模型和降维
自然语言处理与识别

人脸和手势识别

图像取证和识别

微机测控装置与系统

传感技术与应用

自动检测与转换技术

检测技术与自动化装置的研究与应用

自动检测系统的控制、运行与维护

 

【论文要求与注意事项】

1、论文应必须为全英文非纯综述类文章;全文提交审核;

2、论文必须是原创,且从未在其他会议或出版物上发表过;

3、禁止一稿多投;禁止抄袭;

4、流程:投稿>审稿>录用>缴费注册>见刊>检索;

5、作者可通过CrossCheck, Turnitin或其他查询系统自费查重,查重率不高于20%,

6、请到会议网站下载模板排版,排版后论文不得少于5页,不能超过12页。

【投稿与参会说明】

(1)报告者参会:参会并在会议上进行口头报告或海报展示,请报名参会时提交报告的题目和摘要进行审核。

(注:口头报告的摘要不提交出版)

(2)听众身份参会:出席并参加这次会议, 并可全程旁听会议所有展示报告。

注:每篇被录用的稿件可享一位作者免费参会

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