【毕设论文】基于pix2pix的数据增强方法在工业芯片表面缺陷检测中的应用(合肥工业大学2021届物联网工程毕业论文)
论文的tex源码已经上传到GitHub了。基于pix2pix的数据增强方法在工业芯片表面缺陷检测中的应用Applicationofdataenhancementmethodbasedonpix2pixinSurfaceDefectDetectionofIndustrialChips摘要 工业芯片被广泛应用于各个领域,种类繁多,效用良好、效益非凡,同经济社会的发展紧密不可分割,对于第四次工业革