调试总结——(再聊bootloader中的梗)调试无法跳转置APP出现hardfault或者停在B.问题

之前有写过一篇关于IAP的博文，也顺利的启动过好多次，但是昨天用华大的芯片做boot发现始终跳转不到APP中。
现对调试做个总结：

1)调试方法问题

调试方法很重要，调试过程中需要理清思路，这一步会发生什么，下一步会发生什么，去掉冗余的步骤，尽可能的去简化，直到最直接能达到目的的方法。调试bootloader的时，可以先省掉代码搬移，直接烧录进指定地址的代码，然后直接用bootloader去跳转，不用做其他事。先确定最简单的能否实现。

2)无法跳转的原因

先上段跳转代码：

void execute_firmware(uint32_t addr)
{
#ifdef __UART_EN__
	printf("execute_firmware\r\n");
#endif
	__disable_irq();
	//if(((*(uint32_t*)addr)&0x2FFE0000)==0x20000000) //0001 1111 1111 1110 0000 0000 0000 0000
	{

		JumpAddress = *(uint32_t*)(addr);
#ifdef __UART_EN__
		printf("JumpAddress1 = %x\r\n",JumpAddress);
#endif
		__set_MSP(JumpAddress);
#ifdef __UART_EN__
		printf("MSP_Address = 0x%x xxxx\r\n",JumpAddress);
#endif
		JumpAddress = *(uint32_t*) (addr + 4);

		Jump_To_Application = (pFunction) JumpAddress;
		
	//	*((volatile uint32_t*) 0xE000ED08) = addr;//矢量偏移
		SCB->VTOR = 0x0000E000;
		Jump_To_Application();
	}	
}

调试现象：

（1）中断有全部关闭，但现象依旧

（2）矢量偏移，我也是有偏移的，偏移地址正确，但现象依旧

（3）APP程序在代码中的准确性，用keil调试比对过，也是正确的，但现象依旧

（4）APP程序中中断有开启，但现象依旧

原因解释：

（1）在APP程序中的.S文件中，华大的启动文件和其他mcu有区别

               ;reset NVIC if in rom debug
                LDR     R0, =0x20000000
                LDR     R2, =0x0
                MOVS    R1, #0                 ; for warning, 
                ADD     R1, PC,#0              ; for A1609W, 
                CMP     R1, R0
                BLS     RAMCODE

              ; ram code base address. 
                ADD     R2, R0,R2
RAMCODE
              ; reset Vector table address.
                LDR     R0, =0xE000ED08   //矢量地址
                STR     R2, [R0]

                LDR     R0, =SystemInit
                BLX     R0
                LDR     R0, =__main
                BX      R0
                ENDP

在SystemInit前，有对矢量进行了重置。所以代码始终跳转不到想要的地址中。

解决方法就是在APP代码中，再次对矢量进行偏移相应的地址：

int main(void)
{
	SCB->VTOR = 0x0000E000;
	__enable_irq();
	....
}

（2）在调试过程中，最好先把flash中的数据先全部清除在烧写，以防数据覆盖导致的不能成功点亮的问题